レーザ回折・散乱法の頂点。

LS 13 320(エルエス 13 320)は、従来のレーザ回折・散乱法の概念を覆す次世代のレーザ回折・散乱法粒度分布測定装置です。世界で唯一、フラウンホーファー回折とミー散乱理論、さらにPIDS理論を用いたマルチ光学系を搭載し、最も高い分解能、卓越した精度、優れた再現性を得ることができます。また、新世代の5種類の洗練されたサンプルモジュールは、様々なサンプルに適用し、簡単に交換し、操作できるように設計されております。サンプルモジュールの交換はユニークな「オートドック」メカニズムを用いて、わずか数秒で行うことができます。便利な自動洗浄は、大容量な水溶媒系サンプルモジュールと、有機溶媒にも対応しているユニバーサルリキッドサンプルモジュールで利用することができます。トルネードドライパウダーサンプルモジュール(特許)を用いれば、乾式法で高分解能かつ高再現性で測定することができます。さらに全自動測定モジールは、28サンプルをフルオートメーションで測定します。

レーザ回折散乱法 粒度分布測定装置 LS 13 320シリーズ

特長

  • 粒度分布測定範囲:0.017~2000μm(湿式) 0.4~2000μm(乾式)
  • 業界最高の133個のディテクタを適正に配置したマルチ光学系(特許)で、レーザ回折・散乱法で初めて、高分解能な粒度分布を実現。レーザ回折・散乱法で世界最高の分解能は、研究開発から品質管理まで高精度のニーズに対応
  • 世界初、PIDS(偏光散乱強度差計測法)採用による0.4μm以下の精度、分解能の大幅な向上(特許)
  • 生産性を向上させるフルオートメーション測定機構(オプション)。28サンプルを無人測定(分散剤添加、超音波分散)
  • 乾式法でも、トルネード方式サンプルモジュール(特許)により、抜群の高分解能と再現性を実現
  • 独自の便利なオートドック(Auto-Dock)機能で簡単にサンプルモジュール(4種類)の交換可能
  • ISO規格に準拠、21 CFR Part 11対応ソフトウェア搭載
  • 応用例 (乾式法・湿式法)
  • 近接した3種混合サブミクロン粒子83nm,204nm,503nmの高分解能測定例

    世界初のPIDSを用いたLS13320の0.5ミクロン以下での分解能の高さを示すデータです。(1種類ずつならば、他の機器で粒子径を測定できますが、3種類同時測定でしかもサブミクロン領域の粒子径が近接している条件で、正確な測定データを出せるのは、高分解能なLS13320のみです。)

  • 乾式法(トルネード方式)による優れた再現性、高い分解能

    トルネードドライパウダーサンプリングモジュールを用いて、薄力粉(小麦粉)を乾式法で測定した例です。強力粉とは異なり、二峰性の分布になります。 強力粉と薄力粉の違いは小麦粉に含まれる蛋白質の量や質の違いから生じます。強力粉はグルテンが多く、粘着性が強く、薄力粉はグルテンが少なく、粘着性が弱くなります。用途は、薄力粉は仕上りの軽い菓子やケーキ、天ぷらに用いられます。 トルネード方式(特許)の均一な乾式サンプリングにより、データがばらつきやすい乾式法で優れた再現性を実現しました。

湿式サンプルモジュール

水系リキッドサンプルモジュール
ユニバーサルリキッド
サンプルモジュール
マイクロリキッド
サンプルモジュール

乾式サンプルモジュール

トルネード ドライパウダー
サンプルモジュール(特許)

全自動無人測定モジュール

水系リキッドサンプルモジュールと
AutoPrep

レーザ回折・散乱法粒度分布測定装置 比較表

ギャラリー

仕様

製品名 LS 13 320 シリーズ
粒度分布
測定範囲
0.4~2,000μm (PIDS非搭載モデル)
0.017~2,000μm (PIDS搭載モデル)
ディテクタ数 133個(レーザ回折・散乱+PIDS用)
光源 長波長半導体レーザ 750nm
タングステンハロゲンランプ(PIDS搭載モデル)
450nm、600nm、900nm
粒子径測定
チャンネル数
116チャンネル
(測定範囲内の分割数)
解析演算 133パラメーター
超高速アルゴリズム
サンプル
モジュール
乾式、湿式各種(4種類)、交換方式
OS Windows、NT、2000、XP(日本語)
ソフトウェア 日本語版
21CFR Part11対応
寸法・重量 1,030(W)×310(D)×490(H)mm(PC含まず)
45kg
電源 AC100V±10%, 50/60Hz, 600W
価格(税別) 本体価格
PIDS非搭載モデル ¥6,000,000 ~
PIDS搭載モデル ¥7,800,000 ~
サンプルモジュールは別売

関連情報