レーザ回折・散乱法 粒度分布測定装置 比較表

機種名 ベックマン・コールター
LS13 320
A社 B社 C社 D社
測定原理 光回折法、ミー散乱法
偏光散乱強度差法(PIDS)
光回折法、
ミー散乱法。
ミー散乱法 光回折法、
ミー散乱法
光回折法、
ミー散乱法
測定範囲(μm) 0.017~2000 0.02~2000 0.01~3000 0.03~1000 0.02~2000
光源 長波長半導体レーザ 780nm
PIDS(特許)用タングステンハロゲン450nm,600nm,900nm
長波長半導体レーザ750nm3本 He-Neレーザ
633 nm、LED 青色
半導体レーザ
680 nm
He-Neレーザ 633nm、LED 466nm、
検出器数 133個
光回折散乱用126個
PIDS用7個
70個 87個
      75個リング状
      12個
81個 48個
測定分解能 116粒径分割
サブミクロン領域36分割
100粒径分割
サブミクロン領域25分割
80粒径分割
サブミクロン領域20分割
51粒径分割サブミクロン領域16分割 100粒径分割サブミクロン領域20分割
乾式法測定オプション トルネード方式(特許)
均一な分散で再現性が良好
乾式/湿式の交換は容易
有り 有り(内蔵) 有り 有り
各検出器の感度チェック及び自動補正機能 有り
全自動測定システム
  • 28検体セット可能
  • 分散剤の選択、超音波の処理などを全自動でサンプルの前処理を行う
  • 最適な測定濃度を自動調製
  • 30検体
  • 自動測定により、測定者の負担を減らすことができますが、全自動の測定は不可
  • 24検体
  • サンプルの前処理は、攪拌のみで不十分
  • セットしたサンプルは全量での測定ではなく、サンプリングの誤差は大きい
光軸調整 高精度自動調整 自動調整 自動調整 手動調整 自動調整
屈折率の変更 実数・虚数部とも自由に変更可能。任意の光学定数をユーザーが光学ファイルを作成出来る。 本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。 本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。 本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。 本体内の値のみ使用可能。任意の光学定数の作成は不可。
光源強度自動チェック機能 有り
一定の光強度が得られない場合、エラーメッセージ。トラブルにおいても自動判断を行う
21CFR Part 11対応 21CFR Part11対応     21CFR Part11対応 21CFR Part 11対応
保守契約 GMPに従ったV-Check保守プログラム 一般保守 一般保守 一般保守 一般保守