高分解能・高精度・高感度

ベックマン・コールターは HACH 社からパーティクルカウンター事業を移管し、気中・液中および油中パーティクルカウンターの取り扱いを 2014 年 1 月より開始しました。
両社の技術を活用して優れたソリューションの提案に努め、お客様の課題を解決するパートナーシップをさらに強固なものにしていきます。

DelsaMax シリーズ

ゼータ電位・ナノ粒子径測定装置 DelsaMax PRO
リアルタイム ゼータ電位・ナノ粒子径測定装置

DelsaMax PRO

1秒間隔の測定により、リアルタイムな反応の解析を実現

製品名 測定範囲
(粒子径測定)
測定範囲
(ゼータ電位測定)
DelsaMax PRO 0.0004~10 μm 1 nm ~15 μm
ナノ粒子径測定装置 DelsaMax CORE
リアルタイム ナノ粒子径測定装置

DelsaMax CORE

高濃度から超低濃度までのさまざまなサンプルを 1 秒で測定

製品名 測定範囲
(粒子径測定)
測定範囲
(ゼータ電位測定)
DelsaMax CORE 0.0004~10 μm -

Multisizer シリーズ

精密粒度分布測定装置 Multisizer4e
精密粒度分布測定装置

Multisizer 4e

粒子体積を 1 個ずつ実測し、同時に個数・体積・面積の粒子径分布を測定

製品名 粒子径分布測定範囲
Multisizer 4e 0.2~1,600 μm(直径)
0.004~2.145 X109 fL(μm3)(体積)
精密粒度分布測定装置 Multisizer3
精密粒度分布測定装置

Multisizer 3

粒子中に存在する異物や凝集粒子を検出する標準器

製品名 粒度分布測定範囲
Multisizer 3 0.4~1,200 μm (相当径を測定する)、
個数基準および体積基準および面積基準粒度分布

LS 13 320

レーザ回折散乱法 粒度分布測定装置 LS 13 320(湿式システム)
レーザ回折散乱法 粒度分布測定装置

LS 13 320(湿式システム)

特許 PIDS により1 μm 以下を検出し安全性も飛躍的に向上

製品名 粒度分布測定範囲
LS 13 320 0.4~2,000 μm (PIDS非搭載モデル)
0.017~2,000 μm (PIDS搭載モデル)
レーザ回折散乱法 粒度分布測定装置 LS 13 320(乾式システム)
レーザ回折散乱法 粒度分布測定装置

LS 13 320(乾式システム)

乾式システムでは唯一サンプル濃度調整から全自動測定

製品名 粒度分布測定範囲
LS 13 320 0.4~2,000 μm (PIDS非搭載モデル)
0.017~2,000 μm (PIDS搭載モデル)