レーザ回折・散乱法粒度分布測定装置 LSシリーズ 測定データ集
近接した3種混合ラテックス粒子83nm, 204nm, 503nmの粒度分布

世界初のPIDS理論を用いたLSの0.5ミクロン以下での分解能の高さを示すデータです。
(サブミクロン粒子を1種類ずつならば、他の機器で粒子径を測定できますが、3種類同時測定で、かつ近接した粒子径で、正確な測定データを出せるのは、高分解能なLSのみです。)

3種混合ラテックス粒子83,204,503nmの粒度分布ヒストグラム
レーザ回折・散乱法粒度分布測定装置 LS 13 320
測定条件
分散媒
分散剤 なし
前処理 攪拌