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レーザー回折・散乱法 粒度分布測定装置 標準粒子LSコントロールG15 (P/N 7800370)素材変更と装置の設定変更について

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2018年8月28日(火)

謹啓  時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。平素は格別のご高配を賜り、厚く御礼申し上げます。

さて、レーザー回折・散乱法粒度分布測定装置LSシリーズ用標準粒子LSコントロールG15は、Lot#9370027Fから下記の通り、ガーネットから炭化ケイ素(SiC, Silicon Carbide)への素材変更を行いました。新素材におきましても、今までと同様のアッセイ値をもつ標準粒子となっている事に加え、ガーネットでみられる幅広い粒度分布と比較し、よりシャープな粒度分布を持った標準粒子となります。

新素材と旧素材では、屈折率が異なります。お手数をお掛け致しますが、新しい光学モデルを作成頂き、装置の設定を変更頂ますよう、宜しくお願い申し上げます。

今後とも弊社製品をご愛顧賜りますよう、重ねてお願い申し上げます。

謹白

新素材 旧素材
素材 炭化ケイ素 ガーネット
内容量、本数 0.5 g、10本 0.5 g、10本
屈折率(実数部、虚数部) 2.65、0 1.8、0.3
密度 3.2 g / cc 3.5-3.9 g / cc

以上

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